电子束辐照对多壁碳纳米管的影响（英文）

编号：NMJS05124

篇名：电子束辐照对多壁碳纳米管的影响（英文）

作者：李斌； 凤仪； 丁克望； 钱刚； 张学斌； 刘衍芳；

关键词：多壁碳纳米管； 电子束辐照； 形貌； 损伤机理；

机构： 合肥工业大学材料科学与工程学院；

摘要： 在室温下采用透射电子显微镜中汇聚的电子束辐照多壁碳纳米管。结果表明,在能量为100 keV的电子束辐照下除了碳纳米管管壁有一些弯曲外没有其他结构被破坏;当电子能量增加到200 keV时,纳米管有明显的损伤,可以观察到纳米管的无定型化、纳米管外壁的凹坑和缺口。200 keV的电子束辐照还能形成碳洋葱和2根多壁纳米管的焊接。多壁碳纳米管的离位阀能为83~110 keV。能量超过阀能的电子束可以很轻易地损伤纳米管而低于阀能的电子束则很难损坏纳米管,其损伤机理为溅射和原子离位。